雙光束掃描型可見分光光度計是實驗室常規(guī)分析設備，它利用光譜分析方法對樣品進行定性、定量分析，在有機化學、無機化學、生物化學、生命科學、藥品分析、食品檢驗、醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)保、地質、冶金、石油、機械、商檢和農業(yè)等各個領域都有廣泛的應用。

掃描型分光光度計通過PC掃描軟件可直接聯(lián)機操作，進行光度測量，定量分析(含標準曲線功能)、波長掃描、多波長測試、DNA/蛋白質和核酸測試等。

掃描型分光光度計的基線平直度調整說明：

基線平直度是指掃描透射比為100和0時基線傾斜或彎曲的程度。如果基線的平直性差，就會使樣品的吸收光譜中各吸收峰之間的比值發(fā)生變化，給定性分析造成錯誤。導致基線不平直的主要原因是儀器的光學系統(tǒng)失調，兩光束不平衡。如儀器受震動，光源位置變動等都會引起光學系統(tǒng)故障(基線平直度要以吸光度表示)。有些設備對基線平直非常敏感，容易超出規(guī)程標準，因此在進行此項測量時要使機器充分預熱，光譜帶寬設為2 nm，并且在儀器遮光罩關閉后穩(wěn)定2 min后再進行波長掃描。